研究目的
研究不同表面修饰处理下C3N单层的能带结构变化,以实现其本征带隙的可调性。
研究成果
通过缺陷工程、表面修饰和取代掺杂等表面改性处理,可有效调控C3N单层的带隙——这些方法通过引入杂质态、轨道再杂化和n型/p型掺杂发挥作用。研究发现特定处理方式中带隙与掺杂浓度呈线性关系,从而实现精准调控,并拓展其在电子学、光子学及催化领域的应用。
研究不足
该研究基于理论计算,可能无法完全反映实验条件或复杂性。部分掺杂反应(如氟替代)具有正反应能,表明其实验实现存在困难。超胞模型的使用可能无法涵盖所有实际缺陷或相互作用。
1:实验设计与方法选择:
采用基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理计算,使用维也纳从头算模拟软件包(VASP)并设置自旋极化,几何优化采用Perdew-Burke-Ernzerhof(PBE)泛函,电子结构计算采用Heyd-Scuseria-Ernzerhof(HSE06)泛函。
2:样本选择与数据来源:
使用含24个碳原子和8个氮原子的C3N单层2×2超胞模型以确保能带结构展开的有效性,构建了缺陷模型(碳或氮空位)、表面修饰模型(氢或氧吸附原子)以及替代掺杂模型(硼或氟原子)。
3:实验设备与材料清单:
计算软件VASP,具体参数包括动能截断值400 eV、力收敛标准0.01 eV/?、能量收敛标准10^-5 eV,以及8×8×1的Monkhorst-Pack k点网格,真空层设置为约20 ?以避免周期性相互作用。
4:01 eV/?、能量收敛标准10^-5 eV,以及8×8×1的Monkhorst-Pack k点网格,真空层设置为约20 ?以避免周期性相互作用。
实验步骤与操作流程:
4. 实验步骤与操作流程:对原始及改性的C3N结构进行几何优化,计算缺陷的形成能、表面修饰的结合能、掺杂的凝聚能,并分析能带结构、态密度(DOS)和分波态密度(PDOS)。
5:数据分析方法:
利用VASP的计算输出分析带隙变化、杂质态、电荷转移以及带隙与掺杂浓度之间的线性关系。
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