研究目的
研究高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)脉冲长度(脉冲开启时间)对反应性HIPIMS沉积的DLC:Cu薄膜成分、结构及性能的影响。
研究成果
HIPIMS脉冲长度显著影响DLC:Cu薄膜的成分、结构和性能。当脉冲长度增加至300微秒时,铜原子浓度降低而碳原子浓度升高,sp3/sp2键比例仅有微弱提升。更长的脉冲会产生更多更大的铜纳米团簇,从而改变光学特性(如表面等离子体共振和载流子弛豫时间)。采用400微秒脉冲时获得了最长的弛豫时间,这归因于更大的纳米团簇尺寸,表明通过控制HIPIMS沉积中的脉冲长度可优化薄膜性能。
研究不足
该研究仅限于特定沉积条件(如固定气体流量、基片-靶材间距)和脉冲长度范围(50-400微秒)。较长脉冲(如400微秒)下沉积过程的不稳定性可能影响结果。sp3/sp2键比例变化相对较小,且与纳米团簇尺寸及光学性能的关联性尚未完全阐明。
1:实验设计与方法选择:
采用反应式高功率脉冲磁控溅射(HIPIMS)技术沉积DLC:Cu薄膜,通过改变脉冲开启时间(50、100、200、300、400微秒)并保持占空比恒定,研究脉冲长度对化学成分、结构及光学性能的影响。
2:400微秒)并保持占空比恒定,研究脉冲长度对化学成分、结构及光学性能的影响。 样品选择与数据来源:
2. 样品选择与数据来源:薄膜沉积于硅和石英基底上,样品制备参数按表1所示采用不同HIPIMS脉冲长度。
3:实验设备与材料清单:
配备3英寸铜靶的非平衡反应式HIPIMS系统、氩气与乙炔气体、拉曼显微镜inVia(雷尼绍)、XPS能谱仪(赛默飞世尔科技ESCALAB 250Xi)、氦离子显微镜(蔡司ORION NanoFab)、透射电镜(FEI Tecnai G2 F20 X-TWIN)、光学测量系统(含卤钨灯光源SLS301、积分球RTC-060-SF、光谱仪Maya 2000Pro,均来自海洋光学)以及瞬态吸收光谱仪HARPIA(光转化公司)配激光器Pharos(光转化公司)。
4:积分球RTC-060-SF、光谱仪Maya 2000Pro,均来自海洋光学)以及瞬态吸收光谱仪HARPIA(光转化公司)配激光器Pharos(光转化公司)。 实验流程与操作步骤:
4. 实验流程与操作步骤:在基础压强5×10?? Pa、工作压强4×10?1 Pa、靶基距0.1米条件下沉积30-35秒。沉积后采用拉曼光谱、XPS、氦离子显微镜、透射电镜、光学吸收/反射测量及泵浦-探测光谱进行分析。
5:1米条件下沉积30-35秒。沉积后采用拉曼光谱、XPS、氦离子显微镜、透射电镜、光学吸收/反射测量及泵浦-探测光谱进行分析。 数据分析方法:
5. 数据分析方法:使用XPS Peak 3.1软件拟合拉曼光谱计算D/G峰面积比;XPS数据通过赛默飞世尔科技Advantage软件采用洛伦兹-高斯函数分析;光学吸收值按A=1-T-R计算;瞬态吸收弛豫时间与光谱数据关联分析。
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XPS spectrometer
ESCALAB 250Xi
Thermo Scientific
Used for X-ray photoelectron spectroscopy to analyze chemical composition.
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Helium ion microscope
ORION NanoFab
Zeiss
Used for high-resolution imaging of film morphology.
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Transmission electron microscope
Tecnai G2 F20 X-TWIN
FEI
Used for cross-sectional micrograph acquisition to study nanoclusters.
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Halogen light source
SLS301
ThorLabs
Used as a light source for optical transmission and reflection measurements.
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Integrating sphere
RTC-060-SF
Labsphere
Used for optical measurements to capture transmitted and reflected light.
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Spectrometer
Maya 2000Pro
Ocean Optics
Used for recording optical spectra in the wavelength range of 360-1100 nm.
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Transient absorption spectrometer
HARPIA
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Used for investigating ultrafast optical processes and measuring photoexcited charge carrier relaxation times.
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Optical parametric generator
Orpheus
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Used to tune the excitation wavelength for transient absorption measurements.
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Lyra
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Used in conjunction with the optical parametric generator for wavelength tuning.
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Raman microscope
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Renishaw
Used for Raman scattering measurements to study the structure of DLC films.
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