研究目的
研究热激励表面等离激元-声子极化激元振荡对高导电n-GaAs板中太赫兹辐射反射、吸收和发射的影响,并确定这些振荡的频率及其对热发射和吸收的作用。
研究成果
加热的GaAs/空气界面会在表面等离子体激元(SPP)频率下发射太赫兹辐射,热效应会增强吸收并降低反射率。通过实验确定了SPP振荡的频率,该GaAs板能在特定太赫兹波段作为高功率连续波辐射源。未来研究可探索其他材料或更宽的频率范围。
研究不足
该研究仅限于特定掺杂浓度和厚度的GaAs样品。实验装置可能无法捕捉表面等离子体激元(SPP)行为的所有方面,且结果仅适用于太赫兹频段和GaAs材料。潜在的优化方案包括调整更多参数或使用不同材料。
1:实验设计与方法选择:
采用单晶及界面中振动态热激发发射法。通过加热砷化镓(GaAs)晶片并测量反射与发射光谱来研究表面等离极化激元(SPP)振荡。
2:样品选择与数据来源:
使用高导电性砷化镓抛光晶片,电子密度分别为n=7×101? cm?3和4×101? cm?3,厚度350微米。样品通过电流加热。
3:实验设备与材料清单:
用于测量反射与发射光谱的Nicolet 8700红外光谱仪-变换器(赛默飞世尔科技);砷化镓样品;用于加热的电流源。
4:实验步骤与操作流程:
通过电流将砷化镓晶片加热至最高350°C。在不同温度下测量反射与发射光谱,探测器温度保持20°C。在太赫兹范围(100-600 cm?1)分析光谱。
5:数据分析方法:
测量反射系数R(T)和发射强度Iem(T)。利用与介电函数和基尔霍夫定律相关的方程,分析数据以确定SPP频率及其温度依赖性。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容