研究目的
研究通过真空热蒸发在不同单晶无机衬底上形成的C8-BTBT层的结构与择优取向。
研究成果
无论基底材料和取向如何，C8-BTBT层都获得了具有相似面内取向的(001)面外取向，这由π-π堆叠诱导的分子有序排列所控制。取向程度通过基底材料相关的晶粒结构得以体现。
研究不足
该研究受限于仪器在检测约3°处的(001)衍射X射线峰时的局限性。本研究采用的技术无法估算载流子浓度和迁移率。
1：实验设计与方法选择：
通过真空热蒸镀法将C8-BTBT沉积于不同基底上。采用X射线衍射分析和原子力显微镜观测进行结构表征。
2：样品选择与数据来源：
使用石英玻璃、A-、C-和R-单晶Al2O3（蓝宝石）以及（100）-和（111）-单晶MgO基底。
3：实验设备与材料清单：
真空热蒸镀系统（ULVAC VTS-350ERH/M）、石英晶体沉积控制系统（ULVAC CRTM-6000G）、X射线衍射仪（Rigaku RINT 2500）、二维成像板探测器（Rigaku RINT-Rapid II）、原子力显微镜（岛津SPM-9700-Kai）、霍尔效应测量系统（东阳技研Resitest 8310）。
4：0）、二维成像板探测器（Rigaku RINT-Rapid II）、原子力显微镜（岛津SPM-9700-Kai）、霍尔效应测量系统（东阳技研Resitest 8310）。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：沉积前对基底进行退火处理。在343K的基底温度下沉积C8-BTBT层，控制厚度与沉积速率。沉积后进行XRD和AFM测量。
5：数据分析方法：
采用布拉格方程分析XRD图谱，通过AFM图像分析表面形貌与粗糙度。
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X-ray diffractometer
Rigaku RINT 2500
Rigaku
X-ray diffraction measurements
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2D imaging plate detector
Rigaku RINT-Rapid II
Rigaku
Recording XRD patterns
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atomic force microscopy
Shimadzu SPM-9700-Kai
Shimadzu
Observation of surface morphology
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vacuum thermal evaporation system
ULVAC VTS-350ERH/M
ULVAC
Deposition of C8-BTBT layers on substrates
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quartz crystal deposition control system
ULVAC CRTM-6000G
ULVAC
Control of thickness and deposition rate
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Hall effect measurement system
Toyo Technica Resitest 8310
Toyo Technica
Electrical resistivity estimation
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