1：实验设计与方法选择：

本研究采用压电力显微镜（PFM）和导电原子力显微镜（c-AFM）分别研究铁电畴结构与导电特性。PFM用于畴成像，c-AFM用于高真空环境下的电导率测量。

2：样品选择与数据来源：

通过金属有机化学气相沉积和射频磁控溅射技术在(111)取向SrTiO3衬底上制备了外延SrRuO3底电极的高质量PbZr0.35Ti0.65O3（PZT）薄膜（约160纳米厚度）。

3：35Ti65O3（PZT）薄膜（约160纳米厚度）。 实验设备与材料清单：

3. 实验设备与材料清单：设备包括PFM系统（Park Systems的XE-100和Jeol的JSPM-5410）、c-AFM系统（Jeol的JSPM-5410）、导电Pt/Ir涂层探针（Nanosensors的PPP-EFM）、任意波形发生器（Yokogawa的FG300）、锁相放大器（Stanford Research Systems的SR830和Signal Recovery的Model 7265）以及数据分析软件（Park Systems的XEI和Jeol的Winspm II）。材料包含PZT薄膜、SrTiO3衬底和SrRuO3电极。

4：0）、c-AFM系统（Jeol的JSPM-5410）、导电Pt/Ir涂层探针（Nanosensors的PPP-EFM）、任意波形发生器（Yokogawa的FG300）、锁相放大器（Stanford Research Systems的SR830和Signal Recovery的Model 7265）以及数据分析软件（Park Systems的XEI和Jeol的Winspm II）。材料包含PZT薄膜、SrTiO3衬底和SrRuO3电极。 实验流程与操作步骤：

4. 实验流程与操作步骤：通过直流样品偏压极化诱导极化翻转。PFM测量时通过底电极施加交流电压。c-AFM在高真空环境下施加样品偏压进行电流测量，并在特定点位获取I-V曲线。

5：数据分析方法：

采用XEI和Winspm II软件处理数据，通过Simmons-Schottky发射、Fowler-Nordheim隧穿、空间电荷限制传导及Poole-Frenkel跳跃等模型评估导电机制。