研究目的
通过开发和应用模拟含噪声量子操作及执行量子层析的方法,分析量子信息技术元件基础的质量,旨在改进量子逻辑门和控制程序。
研究成果
用于模拟含噪声量子操作和执行量子层析成像的已开发方法,为量子信息技术提供了全面的质量评估。这些方法能够精确表征量子门、制定实验设备要求并优化量子技术开发,IBM处理器即为明证。
研究不足
由于高维空间(例如Choi-Jamiolkowski态的s^2维度)导致模拟计算量巨大。实验层析成像受限于IBM等实际量子处理器中的噪声和退相干问题,且这些方法可能需要大量样本才能保证精度。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用基于量子操作形式体系(算子求和法与Choi-Jamiolkowski同构)的数学模拟来建模含噪声量子变换,并通过根方法和最大似然法进行量子态与过程层析以验证实验结果。
2:样本选择与数据来源:
模拟涉及单比特和双比特量子变换(如Hadamard门和CNOT门),参数包含弛豫时间T1和T2。实验数据来自超导量子处理器(IBM ibmqx4),用于单比特相位偏移门Z的层析测量。
3:实验设备与材料清单:
使用IBM超导量子处理器(ibmqx4)进行实验层析。
4:实验流程与操作步骤:
模拟时对量子操作添加噪声模型;层析时制备基态,在泡利基下进行测量并累积数据(如每个方案初始化8192次)。重建采用最大似然法。
5:数据分析方法:
统计分析包括测量计数的泊松统计、态重建的似然方程以及精度估计的信息矩阵。
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