研究目的
研究采用石墨烯叉指电极提升Ga?O?:Zn深紫外光电导探测器灵敏度的方法。
研究成果
该研究成功证明了采用石墨烯叉指电极可提升Ga2O3:Zn深紫外光电探测器性能。器件展现出极低的暗电流、高光电比及令人满意的响应度,表明其具有实际应用潜力。这种定制石墨烯电极的方法也有助于推动基于石墨烯的器件发展。
研究不足
该研究聚焦于单一器件结构的制备与表征。该方法在阵列化光电探测器中的可扩展性及集成应用尚未深入探究。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用锌掺杂氧化镓(Zn:Ga?O?)薄膜与石墨烯叉指电极制备深紫外光电探测器,并开发了多步法精确构建石墨烯叉指电极结构。
2:样本选择与数据来源:
通过金属有机化学气相沉积(MOCVD)在c面蓝宝石衬底上外延生长Zn:Ga?O?薄膜,将石墨烯先转移至二氧化硅表面再转印至Zn:Ga?O?薄膜。
3:实验设备与材料清单:
主要设备包括用于薄膜生长的MOCVD、图案化的光刻工艺及石墨烯裁剪的等离子体刻蚀系统;材料包含石墨烯、Zn:Ga?O?薄膜及钛/金(Ti/Au)电极。
4:实验流程与操作步骤:
依次进行石墨烯转移、电极制备及器件表征。
5:数据分析方法:
测量并分析了暗电流、光电导增益比及响应度等性能参数。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
UV-VIS spectrophotometer
UV-2500
Shimadzu
Optical properties characterization.
-
Keithley 2636B source meter
2636B
Keithley
I-V characteristics measurement.
-
optical power meter
NOVA II header and PD300-UV probe
Ophir
Light power density measurement.
-
Shimadzu UV-2600
UV-2600
Shimadzu
Continuous adjustable light source for spectral-response test.
-
LEICA DM2700 M metalloscope
DM2700 M
LEICA
Optical images acquisition.
-
PANalytical Xray Diffractometer
PANalytical
Characterization of the structure and crystalline quality of the Ga2O3:Zn films.
-
ZEISSAURIGA Focused Ion Beam etching system
ZEISS
Chemical composition and cross-sectional morphology measurements.
-
atomic force microscopy CSPM 5500
CSPM 5500
Surface morphology characterization.
-
Renishaw inVia reflex microRaman spectroscopy
inVia reflex
Renishaw
Raman spectrum pattern characterization.
-
VXUV20A photodetector
VXUV20A
PTO DIODE CORP
Light-power calibration.
-
CETC BG-401A photolithography system
BG-401A
CETC
Photolithography process implementation.
-
BYT PE500 RF Genetator
PE500
BYT
Plasma generation.
-
登录查看剩余10件设备及参数对照表
查看全部